Euclid Techlabs LLC 提供獨(dú)立開發(fā)的超快脈沖發(fā)生器系統(tǒng)，將傳統(tǒng)的 TEM 轉(zhuǎn)換為時(shí)間分辨TEM。 該脈沖發(fā)生器將頻閃時(shí)間分辨率引入現(xiàn)有 TEM 系統(tǒng)，而不會(huì)降低其原有性能。為了保持原始光束質(zhì)量，并在脈沖發(fā)生器關(guān)閉時(shí)對正常操作的影響最小（理想情況下沒有），我們可能建議將脈沖發(fā)生器電子槍和聚光透鏡之間。

超快TEM解決方案簡介：

UltraFast Pulser (UFP) 是一種電磁模塊，安裝在現(xiàn)有的電子顯微鏡中，可以使電子束產(chǎn)生脈沖。

• 脈沖束可以從重頻率高達(dá)3GHz 的單電子模式調(diào)整為連續(xù)操作（本機(jī)儀器）。

• 只需要模塊和驅(qū)動(dòng)電子設(shè)備。

• 與傳統(tǒng)的基于激光的超快技術(shù)相比，它是一種更簡單、更實(shí)惠的方法。

超快TEM解決方案技術(shù)參數(shù)：

• 能量范圍：100 keV至300 keV

• 電子束頻閃率：15MHz~3GHz（電激發(fā)）

• 電子脈沖長度：100ps~period-100ps（電激發(fā)）

• 輻射安全

• 與 TEM 腔真空兼容

• 在電激發(fā)下保持TEM 的原始固有空間分辨率。

應(yīng)用：

•      Low-damage/Low-dose電子顯微鏡

–     CryoEM

–     LDA研究，生物大分子

–     超敏感分子的特性研究

–     蛋白質(zhì)

–     納米工程結(jié)構(gòu)分析

•      室溫Low-damage顯微鏡

–     提高有機(jī)材料表征時(shí)的總電子劑量

–     直流束流的晶體衰落值增加2倍（紅色箭頭）

•      電子全息技術(shù)

•      電子三維重構(gòu)

•      時(shí)間分辨顯微鏡

–     泵浦探針頻閃顯微鏡（射頻泵浦，束流探頭）

–     在射頻激勵(lì)下確定MEM器件中的電場特性

1.    磁性和等離子設(shè)備的自旋電子學(xué)

2.    NEMS / MEMS高頻設(shè)備