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技術(shù)資訊
EDS掃描電鏡,即掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合能量色散X射線光譜(EDS)技術(shù),具有多種功能,并在多個(gè)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。以下是對(duì)其功能和應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、功能微觀形貌觀察:SEM部分利用高能電子束掃描樣品表面,通過(guò)電子與樣品原子相互作用所產(chǎn)生的各種信號(hào)(如二次電子、背散射電子等)來(lái)揭示樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)信息。這些信號(hào)會(huì)被探測(cè)器捕捉并轉(zhuǎn)換成圖像,從而得到樣品的高分辨率圖像。元素成分分析:EDS部分通過(guò)檢測(cè)樣品在電子束轟擊下產(chǎn)生的特征X射線來(lái)進(jìn)行元素分析。不同元素具有不同的特征...
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在微觀科學(xué)研究領(lǐng)域,深入探索物質(zhì)表面的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)至關(guān)重要。AFM原子力顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具,能夠在納米尺度下對(duì)樣品表面進(jìn)行精確測(cè)量和成像,為科研人員展現(xiàn)出微觀世界的精細(xì)細(xì)節(jié),堪稱微觀世界的“納米級(jí)測(cè)繪師”。AFM原子力顯微鏡的工作原理基于原子間的相互作用力。它通過(guò)一個(gè)微小的探針,與樣品表面進(jìn)行極近距離的接觸或輕微的掃描。當(dāng)探針靠近樣品表面時(shí),探針原子與樣品表面原子之間會(huì)產(chǎn)生微弱的相互作用力,如范德華力、靜電力等。這種力的變化會(huì)導(dǎo)致探針發(fā)生微小的形變或位移,通過(guò)...
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在科學(xué)研究與工業(yè)檢測(cè)的廣袤領(lǐng)域中,SEM掃描電鏡宛如一位神秘的魔法師,為我們揭開(kāi)微觀世界隱藏的奧秘。SEM掃描電鏡,全稱掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope),它利用聚焦的高能電子束掃描樣品表面,通過(guò)與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào),來(lái)構(gòu)建樣品表面的高分辨率圖像。這一成像原理,讓它能夠呈現(xiàn)出傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡難以企及的微觀細(xì)節(jié)。SEM掃描電鏡的分辨率高,通常能達(dá)到納米級(jí)別。這意味著它可以清晰地觀察到材料表面極其微小的結(jié)構(gòu)和形貌特征。比...
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在科學(xué)研究的廣袤領(lǐng)域中,對(duì)于微觀世界的深入探索一直是眾多科學(xué)家不懈追求的目標(biāo)。而超快電鏡,作為現(xiàn)代科學(xué)儀器中的一顆璀璨明星,正以方式助力科研人員揭開(kāi)微觀世界瞬息萬(wàn)變的奧秘。超快電鏡,全稱為超快電子顯微鏡,它結(jié)合了電子顯微鏡高分辨率成像的能力與超快激光技術(shù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)微觀結(jié)構(gòu)和動(dòng)力學(xué)過(guò)程的超高速觀測(cè)。傳統(tǒng)電鏡雖然能夠提供納米級(jí)別的空間分辨率,但在捕捉快速變化的現(xiàn)象時(shí)卻顯得力不從心。超快電鏡的誕生,則突破了這一限制,讓科學(xué)家們得以窺探到那些在極短時(shí)間尺度內(nèi)發(fā)生的微觀事件。超快電鏡的...
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在微觀世界的研究領(lǐng)域,深入了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和成分是揭示材料性能、生物分子機(jī)制等奧秘的關(guān)鍵。高通量透射電鏡作為一種先進(jìn)的微觀分析儀器,為科研人員開(kāi)啟了一扇高效探索微觀世界的大門(mén)。高通量透射電鏡的工作原理基于電子與物質(zhì)的相互作用。與傳統(tǒng)透射電鏡類似,它通過(guò)電子槍發(fā)射出高能電子束,電子束穿透極薄的樣品時(shí),與樣品中的原子發(fā)生相互作用,產(chǎn)生散射、衍射等現(xiàn)象。不同的原子結(jié)構(gòu)和成分會(huì)導(dǎo)致電子的散射和衍射情況不同,透過(guò)樣品的電子束攜帶了這些信息,經(jīng)過(guò)電磁透鏡的聚焦和放大,最終在熒光屏或探測(cè)...
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