掃描電鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm;放大倍數可以達到30萬倍及以上連續可調;并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合,可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電鏡樣品臺在科學研究領域具有重大作用。
掃描電鏡樣品臺是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。目前,掃描電鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業生產等領域的微觀研究,僅在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。
掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛應用于觀察各種固態物質的表面超微結構的形態和組成。
所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。它與電視一樣是由控制電子束偏轉的電子系統來完成的,只是在結構和部件上稍有差異而已。
荷蘭DENSsolutions公司提供技術先進的透射電鏡（TEM）樣品管理解決方案，為客戶提供快捷、可靠的納米尺度原位顯微工具。其應用領域包含：納米材料原位加熱研究、碳基納米材料無損成像、金屬結構、催化劑、陶瓷原位加熱研究等。產品包括原位TEM樣品加熱、電學、氣體以及液體系統等。
DENSsolutionsWildfire掃描電鏡樣品臺由樣品臺，控制器，以及計算機軟件程序等構成，該設備使用四電極法閉合回路控制及反饋環境溫度以消除接觸電阻影響。可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結構表征。該儀器主要在低維材料、納米技術、材料工程、能源材料及軟物質等研究領域中廣泛應用。
